Станции для тестирования фотонных интегральных схем (ФИС)

Станция

Станция для тестирования оптико-электрических характеристик подложек WIT-220

По запросу

В наличии на складе

Подробнее

Автоматизированная

Автоматизированная станция по обнаружению дефектов на кремниевых подложках WI-6500

По запросу

В наличии на складе

Подробнее

Автоматическая

Автоматическая станция для тестирования чипов CA-6000AL

По запросу

В наличии на складе

Подробнее

Станция

Станция сверхточного позиционирования кремниевых интегральных схем CA-1000

По запросу

В наличии на складе

Подробнее

Станция

Станция тестирования фотонных интегральных схем FA-GJ*

По запросу

В наличии на складе

Подробнее