Главная / Каталог / Каталог / Станция тестирования фотонных интегральных схем FA-GJ*
Станция тестирования фотонных интегральных схем FA-GJ*
Станция

Станция тестирования фотонных интегральных схем FA-GJ*

В наличии на складе (СПб)
По запросу

Общее описание

Система станции тестирования фотонных интегральных схем состоит из оптического стола, системы визуализации, левой и правой платформ, элемента Пельтье и каналов ВЧ/DC сигнала. Весь процесс тестирования от загрузки образцов до выгрузки результатов выполняется без какого-либо ручного вмешательства, что обеспечивает высокую скорость, исключает влияние человеческого фактора и гарантирует максимальную точность измерений. Ключевые особенности Ось X/Y/Z оснащена алгоритмами автоматической компенсации плоскостности и вертикальности для обеспечения точности позиционирования ±1 мкм; 5-ступенчатая регулировка хода (базовая высота → буфер контакта → высота превышения и т.д.) для предотвращения царапания датчика о чип и обеспечения надежности контакта; Пластины диаметром 3/4/5/6/8/12 дюймов; Дополнительный модуль контроля температуры, высокоточная плата датчика и т.д. могут быть оснащены для удовлетворения особых потребностей в тестировании (например, для высокотемпературных/высокочастотных устройств). АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции и полную техническую поддержку. Получить дополнительную информацию вы можете, обратившись в нашу компанию.