Система пробоподготовки ALLIED MultiPrep™

В наличии на складе (СПб)

По запросу

Общее описание

Описание Система MultiPrep ™ обеспечивает точную полуавтоматическую пробоподготовку широкого спектра материалов для микроскопического анализа (оптического, сканирующей электронной микроскопии - SEM, ионно-лучевой литографии - FIB, просвечивающей электронной микроскопии - TEM, атомно-силовой микроскопии - AFM, и т.д.) Возможности включают: параллельную полировку, полировку под углом или полировку характерной для данной пробы. Система обеспечивает хороший результат независимо от уровня пользователя. Сделано в США