Сканирующий профилометр NanoScan 2s Si/9/5

Общее описание

NanoScan 2s Si/9/5 - щелевой профилометр сканирующего типа,в основе которого используется Si фотодетектор. Диапазон рабочих длин волн составляет 190 - 1100 нм. Устройство используется для комплексного анализа излучения лазеров. Ключевые особенности: Размер пятна от 20 мкм до 6 мм Результаты в режиме реального времени Мощность от 10 нВт до 10 Вт Для импульсных и CW лазеров В комплекте предоставляется ПО стандартного или Pro типа Компания ЛЛС является дистрибьютором компании Ophir на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.