Сканирующий профилометр для малых пучков NanoScan 2s Si/3.5/1.8

Общее описание

NanoScan 2s Si/3.5/1.8 - сканирующий щелевой профилометр, использующий в своей основе кремниевый фотодетектор, работает в диапазоне длин волн от 190 до 1100 нм. Система идеально подходит для комплексного анализа различных типов лазеров. Ключевые особенности: Размер пятна от 7 мкм до 2,3 мм Мгновенное отображение результатов в режиме реального времени Уровень мощности: от 10 нВт до 10 Вт Подходит для импульсных и лазеров непрерывного излучения Компания ЛЛС является дистрибьютором компании Ophir на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.