Сканирующий профилометр для малых пучков NanoScan 2s Ge/3.5/1.8

Общее описание

NanoScan 2s Ge/3.5/1.8 - сканирующий щелевой профилометр на основе германиевого фотодетектора, диапазон рабочих длин волн которого составляет 700 - 1800 нм. Устройство активно используется для комплексного анализа излучения различных типов лазеров. Ключевые особенности: Размер пятна от 7 мкм до 2,3 мм Мгновенное отображение результатов в режиме реального времени Уровень мощности: от 10 нВт до 10 Вт Интерфейс: USB 2.0 Компания ЛЛС является дистрибьютором компании Ophir на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.